電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)室

一、測試原理：
電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)室是實(shí)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)的一種設(shè)備，通過高溫老化試驗(yàn)來加速產(chǎn)品存在的缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過無效浴盆特性初期階段，進(jìn)入恒定期。高溫老化房老化后實(shí)行電氣參數(shù)測量，篩選剔除無效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期無效消滅在正常使用之前。這種為提高電子產(chǎn)品可靠度和延長產(chǎn)品使用使用周期，對恒定性實(shí)行必要的考核，以便剔除那些有“早逝"缺陷的潛在“個(gè)體"（元器件），確保整機(jī)優(yōu)秀品質(zhì)和期望使用周期的工藝就是高溫老化房的原理。

二、參照標(biāo)準(zhǔn)及驗(yàn)收方式：
本設(shè)備參照國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)規(guī)范精工制造，有效模擬氣候環(huán)境對產(chǎn)品的適應(yīng)性試驗(yàn)。具體參照標(biāo)準(zhǔn)和國家環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)如下。
1.  GB/T 10592—2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
2.  GB/T 2423.2--2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：高溫試驗(yàn)方法》

三、技術(shù)參數(shù)：
1.溫度范圍：常溫+10℃－80℃
2.升溫速率：3-5℃/min（空載）
3.溫度均勻度：3℃（空載）
4.房外尺寸：4000*1800*2000（W*D*H）mm
5.運(yùn)行方式：溫度可調(diào)，可程式恒定運(yùn)行
6.安裝電源：AC~380V；50 Hz
7.設(shè)備使用功率:約25KW
8.配備電腦與高溫老化房數(shù)據(jù)傳輸接口，方便查看數(shù)據(jù)、打印測試報(bào)告、查看溫度曲線圖。

四、安全保護(hù)系統(tǒng)：
1.電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)室應(yīng)滿足國家電工安全標(biāo)準(zhǔn)，布線規(guī)范，各接線埠均有明確標(biāo)況，無裸露。
2.工作室與各電源絕緣，電阻大于2MΩ，無積存靜電。
3.完善的安全保護(hù)功能（如下），報(bào)警時(shí)自動(dòng)關(guān)閉老化房電源。
1）可靠的接地保護(hù)裝置
2）漏電/斷路保護(hù)
3）加熱器短路保護(hù)
4）鼓風(fēng)電機(jī)超載保護(hù)
5）工作室超溫聲光報(bào)警
6）超溫保護(hù)